Elektrooptični pojav v feroelektričnem tekočem kristalu¶

Fizikalni praktikum 5, Luka Skeledžija, november 2022¶

Uvod¶

Feroelektrične smektične $C^*$ tvorijo molekule, ki imajo velik električni dipolni moment prečno na vzdolžno os molekul, zato se v teh snoveh pojavi električna polarizacija, ki leži v ravnini plasti in je pravokotna na direktor. Približno je sorazmerna s kotom nagiba. Zaradi vijačne strukture je makroskopska električna polarizacija vzorca enaka. Polarizacijo plasti lahko uredimo v isto smer bodisi z zunanjim električnim poljem bodisi tako, da vzorec ogradimo s ploščicama, ki predpisujeta orientacijo molekul. Če postavimo tanek površinsko stabiliziran feroelektrični kristal v zunanje električno polje, se spremeni optična os vzorca. Linearnemu odzivu lomnega količnika snovi na zunanje električno polje pravimo elektrooptični pojav.

Odvisnost spremembe polarizacije od frekvence lahko opišemo z Debyjevim relaksacijskim modelom:

$ \delta P = \delta P_0 \frac{1}{1 + i \omega \tau} $

Spremembo smeri optične osi vzorca lahko zaznamo tako, da opazujemo , kako se spremeni polarizacija svetlobe pri prehodu skozi vzorec. Prepuščeno moč merimo s fotodiodo, s fazno občutljivim ojačevalnikom pa spremljamo napetost na delovnem uporu.

V tekočem kristalu je zasuk optične osi $ \psi $ zaradi viskoznosti snovi zakasnjen glede na zunanje električno polje. Del, ki je v fazi, dobimo kot realni del Debyjevega relaksacijskga modela, del, ki je premaknjen za $ \pi / 2 $ pa kot imaginarni del te iste enačbe:

$ \psi_R = \frac{ \psi_0 }{1 + (\omega \tau)^2} $

$ \psi_{Im} = \frac{ \psi_0 \omega \tau }{1 + (\omega \tau)^2} $

Iz izmerjenih $\psi_R$ in $\psi_{Im}$ lahko dobimo relaksacijski čas $\tau$ s prilagajanjem gornjih izrazov meritvam. Imamo pa še drugo zanimivo možnost. Če narišemo razmerje med $\psi_R$ in $\psi_{Im}$ ter linearno aproksimiramo, dobimo premico, iz katere lahko izrazimo $\tau$.

alt text

Slika 1: Struktura smektične $C^*$ faze: molekule ležijo v plasteh, povprečna smer molekul opiše vijačnico v smeri normale plasti

Naloga¶

  1. Preveri linearnost odziva za višje amplitude!
  2. Izmeri realno in imaginarno komponento odziva v odvisnosti od frekvence ter določi $\tau$!
  3. Nariši razmerje imaginarnega in realnega odziva in še na drugačen način določi $\tau$!

Potrebščine¶

  • laser
  • vzorec
  • analizator
  • fotodioda
  • Lock-in detektor

alt text

Slika 2: Shema eksperimenta


1. Območje linearnosti¶

Območje linearnosti določimo s pomočjo meritev odziva na spreminjajočo se amplitudo pri frekvenci $ \nu = 20 \; \textrm{Hz} $. Rezultate tabeliramo in numerično izračunamo drugi odvod. Iz rezultatov razberemo, da drugi odvod oscilira okoli ničle za vrednosti do $U_0 \approx 0.6 \; V$. Ker 2. odvod oscilira, se za vse manjše meritvene intervale izpovpreči približno v 0, torej je analizirana odvisnost v tem območju približno linearna (predstavljamo si lahko, da gre črta malo gor, malo dol, ampak v povprečju v smeri premice). Naprej opazimo, da je vrednost 2. odvoda konstantno negativna za $U_0 > 0.6 \; V$. Tedaj lahko tudi iz grafa odvisnosti amplitude od frekvence opazimo, da se prej približno ravna premica krivi. Določimo območje linearnosti med 0.05 in 0.6 V.

Slika 3: Preverjanje linearnosti

2. Fazni zamik v odvisnosti od frekvence¶

Dve komponenti faznega zamika izmerimo s pomočjo lock-in ojačevalnika, ki na dveh zaslonih izpisuje vrednosti. Vrednosti tabeliramo in narišemo graf. S pomočjo knjižnice scipy.optimize.curve_fit z metodo najmanjših kvadratov na dobljene podatke fittamo funkciji, in sicer:

$ \psi_R = \frac{ \psi_0 }{1 + (\omega \tau)^2} $

$ \psi_{Im} = \frac{ \psi_0 \omega \tau }{1 + (\omega \tau)^2} $

Iz določenih parametrov fita, izluščimo vrednost $\tau$ ter vrednost $\psi_0$.

Iskreno o napakah: Fit točk na funkcijo je soliden, ni pa najboljši. Napake pri meritvah so najverjeteje vir internih lastnosti tekočega kristala, detektorja, fotodiode, postavitve in so tako težko določljive (ter najverjetneje majhne). Podamo le grobo oceno. Vemo, da Debyev rekalsacijski model velja za idealen dielektrik - t.j. snov v kateri dipoli ne vplivajo drug na drugega. Iz teh razlogov ter zaradi preglednosti uporabo error-barov na grafih izpustimo in na koncu podamo le grobo oceno nedoločenosti za $\tau$. Prav tako se zavedamo, da smo iz tehničnih razlogov posebej fittali $\psi_0$ za $\psi_R$ in $ \psi_{Im}$, čeprav gre za isto količino.

Dobimo:

$ \tau_{0.2\; V} = 18.6 \; ms \pm 7 \; ms $

$ \tau_{0.4\; V} = 19.6 \; ms \pm 7 \; ms $

Slika 4: Primerjava amplitude realne in imagniarne komponente $U_0 = 0.2 V$ v odvisnosti od frekvence

Slika 5: Primerjava amplitude realne in imagniarne komponente $U_0 = 0.4 V$ v odvisnosti od frekvence

3. Razmerje med signaloma pri fazi $ \frac{\pi}{2} $ in $ 0 $.¶

Za določanje razmerja med signaloma delimo vrednosti $\psi_R$ in $ \psi_{Im}$. Tako dobimo enačbo premice:

$ y(\nu) = \frac{\psi_0}{\psi_0} \cdot \tau \cdot \nu$

Dobimo:

$\tau_{0.2\; V} = 22.1 \; ms \pm 7 \; ms $

$\tau_{0.4\; V} = 25.6 \; ms \pm 7 \; ms $

Slika 6: Razmerje realne in imagniarne komponente $U_0 = 0.2 V$ v odvisnosti od frekvence

Slika 7: Razmerje realne in imagniarne komponente $U_0 = 0.4 V$ v odvisnosti od frekvence

5. Podatki¶

U_out U_real ni
0 0.004 0.0130 20
1 0.050 0.0172 20
2 0.102 0.0351 20
3 0.158 0.0547 20
4 0.222 0.0776 20
5 0.300 0.1065 20
6 0.356 0.1270 20
7 0.416 0.1506 20
8 0.466 0.1699 20
9 0.500 0.1838 20
10 0.564 0.2075 20
11 0.618 0.2279 20
12 0.660 0.2437 20
13 0.720 0.2650 20
14 0.810 0.2940 20
15 0.880 0.3144 20
16 0.932 0.3279 20
17 1.040 0.3520 20
18 1.130 0.3677 20
19 1.210 0.3790 20
20 1.270 0.3860 20
Tabela 1: Meritve linearnosti
ni U_re U_im U_0
0 10 0.0981 0.0010 0.2
1 12 0.0941 -0.0082 0.2
2 14 0.0900 -0.0143 0.2
3 16 0.0859 -0.0188 0.2
4 18 0.0816 -0.0222 0.2
5 20 0.0776 -0.0247 0.2
6 30 0.0616 -0.0305 0.2
7 40 0.0509 -0.0317 0.2
8 50 0.0429 -0.0318 0.2
9 60 0.0372 -0.0307 0.2
10 70 0.0324 -0.0297 0.2
11 80 0.0287 -0.0287 0.2
12 90 0.0276 -0.0276 0.2
13 100 0.0266 -0.0266 0.2
14 110 0.0207 -0.0256 0.2
15 150 0.0143 -0.0220 0.2
16 200 0.0100 -0.0185 0.2
17 300 0.0056 -0.0136 0.2
18 400 0.0035 -0.0107 0.2
19 500 0.0024 -0.0086 0.2
20 1000 0.0007 -0.0045 0.2
21 2000 0.0002 -0.0023 0.2
Tabela 2: Meritev Im in Re komponente za $U_0 = 0.2 \; V$
ni U_re U_im U_0
0 10 0.2115 0.0020 0.4
1 12 0.2036 -0.0172 0.4
2 14 0.1942 -0.0298 0.4
3 16 0.1846 -0.0389 0.4
4 18 0.1754 -0.0457 0.4
5 20 0.1666 -0.0506 0.4
6 30 0.1321 -0.0617 0.4
7 40 0.1087 -0.0638 0.4
8 50 0.0915 -0.0627 0.4
9 60 0.0793 -0.0615 0.4
10 70 0.0694 -0.0594 0.4
11 80 0.0614 -0.0573 0.4
12 90 0.0547 -0.0551 0.4
13 100 0.0493 -0.0531 0.4
14 110 0.0446 -0.0508 0.4
15 150 0.0310 -0.0436 0.4
16 200 0.0219 -0.0366 0.4
17 300 0.0125 -0.0272 0.4
18 400 0.0081 -0.0214 0.4
19 500 0.0057 -0.0176 0.4
20 1000 0.0018 -0.0090 0.4
21 2000 0.0004 -0.0046 0.4
Tabela 3: Meritev Im in Re komponente za $U_0 = 0.4 \; V$